24 / 25 / 26 Septembre 2019

PARIS EXPO PORTE DE VERSAILLES - HALL 4 - France

Bien plus qu’une exposition ... Découvrez notre contenu riche et varié !

CONFÉRENCES, FORMATIONS ET TABLES-RONDES
RYTHMERONT CES 3 JOURS !

PROGRAMME DES CONFERENCES

PROGRAMME DES CONFÉRENCES MEASUREMENT WORLD  - SALLE 1

mardi 24 septembre mercredi 25 septembre jeudi 26 septembre
HBK (à venir)
10H-12H

EMVA
9H30
- EMVA : Présentation des standards de la vision et objectifs - EMVA (FR)
- Le suivi d’objets multiples, un enjeu pour la vision industrielle - APREX SAS (FR)
- Comment innover et créer de la valeur avec la recherche publique ? - INSAVALOR (FR)
- Expand the reach of your inspection systems with infrared imaging technologies - LYNRED (GB)
- La tomographie à rayons X au service du monde industriel - SEMATEC (FR)

LCIE BUREAU VERITAS
10H
IoT et techniques de mesures : apport de l’innovation et des nouvelles technologies sans fil - LCIE-BUREAU VERITAS (FR)

 

 

 

EMVA
14H
- EMVA : Présentation et chiffres - EMVA (FR)
- Etat de l’art des capteurs visibles pour la Machine Vision et leur futur - SVS-VISTEK (FR)
- Artificial Intelligence on edge devices for machine vision applications - IDS-IMAGING (GB)
- Techniques d’illumination pour les nouvelles applications Machine Vision (Hyperspectral #SWIR #3D …) - EFFILUX (FR)
- La technologie Sony de caméra polarisée : ajoutez une nouvelle dimension à vos inspections - SONY (FR)
- Vision embarquée : de l’optimisation à la miniaturisation #quels sont les facteurs clefs pour réussir le développement de vos applications ?  - TECHWAY (FR)

ENEKA
14H
Les technologies photoniques pour l'Usine du Futur
 
LE PROGRAMME DETAILLE

 

Le Congrès International de Métrologie revient du 24 au 26 septembre 2019 à Paris,
en partenariat avec Measurement World. 

 


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